Основы радиоэлектроники

Системы передачи информации

Параметры устройства, измеряющего толщину покрытия объекта и его метрологические характеристики

Целью курсового проекта является изучение параметров устройства измеряющего толщину покрытия объекта и его метрологические характеристики. В результате намеченной работы мы должны из существующих методов по измерению толщины покрытия, выбрать наиболее подходящий, провести метрологическую аттестацию измерительного канала и пояснить своё решение. Произвести статистическую обработку результатов многократных измерений, с последующим нормированием погрешности устройства.


Другое по теме:

Микроконтроллеры семейства AVR фирмы Atmel В классической микропроцессорной системе используются отдельная микросхема процессора, отдельные микросхемы памяти и отдельные порты ввода вывода. Стремительное развитие микропроцессорной техники требует всё большей и большей степени интеграции ...